Новый атомно-силовой микроскоп поместился на маленьком чипе

Специалисты из австралийского Университета Ньюкасла и американского Университета Техаса представили новейшую разработку — атомно-силовой микроскоп настолько маленького размера, что его можно поместить на поверхности чипа. Результаты работы авторы опубликовали в журнале Journal of Electromechanical Systems.

Атомно-силовой микроскоп «ощупывает» исследуемую поверхность при помощи острой иглы — кантилевера. Приближаясь к поверхности, кантилевер «запускает» межмолекулярные взаимодействия, которые заставляют балку прогибаться. Исследуя прогиб, учёные определяют относительную величину двух соседствующих точек образца. Чтобы измерить её, применяется лазерный луч.

Новейшая австралийско-американская технология позволит уместить подобную конструкцию на небольшом чипе — по словам разработчиков, конструктивно их автомно-силовой микроскоп не отличается от аналогичных зондовых моделей, в том числе того, который использовался на борту «Розетты». В качестве пьезоэлектрических элементов в микроскопе используются электростатические актюаторы. Инженеры утверждают, что актюаторы позволяют не только сканировать поверхности в стандартном режиме, по обычным траекториям, но и применять нестандартные — например, фигуры Лиссажу, — поэтому сканирование осуществляется намного быстрее.

Новый атомно-силовой микроскоп можно будет использовать в медицине, в частности, чтобы помогать диагностировать раковые заболевания.